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    產品詳情
    • 產品名稱:國產順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808

    • 產品型號:
    • 產品廠商:納克(NCS)
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    簡單介紹:
    國產順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808是針對金屬、建材、地質、環境、礦產等領域對無機元素分析技術的需求,研制的具有元素范圍廣(B-U)、動態范圍寬(ppm-100%)、檢出下限低、精度高、速度快等諸多優點X射線熒光光譜儀。國產順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808達到《JJG 810-1993波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程》A級要求,適用于地質、建材、新材料、生態環境等諸多領域。
    詳情介紹:

    國產順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器簡介:

    X射線熒光(XRF)技術是當今*主要的分析測試技術之一,具有元素范圍廣(B-U)、動態范圍寬(ppm-100%)、檢出下限低、精度高、速度快、自動化、無損測試、制樣簡單、多元素同時測定等諸多優點,與ICP-AES、ICP-MS并稱無機多元素測試技術領域的三大支柱。

    在科技部國家重大科學儀器專項(2012YQ050076)的支持下,針對金屬、建材、地質、環境、礦產等領域對無機元素分析技術的需求,廠家先后攻克了X射線源、分光光路系統、探測器等關鍵技術,成功研制了順序式波長色散X射線熒光光譜儀——CNX-808。

    基于國產順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808,納克與國家地質實驗測試中心等多家權威測試機構合作,開發了適合各行業的分析測試方法,建立了針對金屬、地質、建材、環境、礦物等領域多種類型樣品的方法體系。

    國產順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808應用領域:

    地質樣品領域:

    CNX-808針對地質領域壓片和熔片兩類樣品分別開發了應用方法體系,可以為地質研究、找礦提供可靠的檢測數據。

    建材樣品領域:

    國產順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808針對多種建材樣品的分析需求,建立了水泥、涂料等樣品應用方法體系,實現對樣品的高精度分析。

    新材料樣品領域:

    CNX-808能夠解決新材料研究領域寬幅、無損、全元素分布分析的難題。

    生態環境領域:

    CNX-808針對生態環境中的土壤、植物、水系沉積物、空氣顆粒物等樣品的分析需求,建立了整體的解決方案。通過研究不同時期形成的土壤層、沉積層中的有害重金屬元素含量分布特征,為環境評價提供可靠的指標參數。

    國產順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器特點:

    高穩定高精度X射線源:

    4kW大功率高壓發生器,保證更低的檢測下限和更快的分析速度;優化的功率自動調節程序,能夠快速調整功率,監控X射線管狀態,提高使用壽命;一體化冷卻水機,提供對X射線管更可靠的保護。

    優良的光路設計:

    光程短,有利于獲得更大的計數率。提供*多10組濾光片、10組光闌、4組初級準直器、10組分光晶體的配置。

    波譜能譜復合功能(選配)

    波譜能譜復合可以提高數據質量和檢測速度,選配的SDD探測器,提供更加靈活的分析手段,兩種功能深度復合。分布分析時,可以根據實際需求,任選一種探測器。

    可靠的高精度測角儀:

    θ/2θ單獨驅動,測角儀采用成熟可靠的傳動和反饋技術,在保證性能優異的同時,具有可靠性高、使用壽命長等特點。

    便捷強大的分析測試軟件:

    界面友好,操作便捷,內置多種算法,全自動化測試過程,滿足定量定性分析需要。

    國產順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器參數:

    波長色散X射線熒光光譜儀指標

    硬件配置

    高壓發生器

    *大電壓:60kV

    *大電流:150mA

    *大功率:4kW

    長期穩定度:0.01%

    X射線管

    端窗

    可選靶材:Rh、Cu、Mo、W、Cr、Pt

    鈹窗厚度:75μm/50μm可選

    自動進樣器

    1/48位可選,機械手自動進樣系統

    樣品尺寸

    固體,*大φ50mm*H30mm

    樣品臺

    極坐標定位、帶自旋功能

    初級濾光片

    Ti、Zr、Cu、Al等多種材質和厚度可選,*多可配10

    光闌

    φ35,30,25,20,10,3,1,0.5mm及衰減器

    初級準直器

    150、300、500、750、3000μm可選,做多可配4

    測角儀

    θ-2θ獨立驅動

    掃描范圍:SC1-118°)、PC10-148°)

    步進角度:0.001°、0.002°、0.005°、0.01°、0.02°、0.05°、0.1°

    角度重復性:±0.0005°

    角度精度:±0.0005°

    分光晶體

    10位晶體交換器,liF200、LiF220、PET、Ge、多層膜晶體等可選

    探測器

    閃爍體計數器(SC)、正比式流氣計數器(F-PC

    恒溫器

    36.5±0.1

    真空系統

    分析室和進樣室雙真空

    選配件

    分析室充He氣系統(分析液體樣品的氣氛)

    能譜探測器SDD,可與波譜復合使用,提高檢測效率

    樣品CCD照相系統,配合分布分析使用

    儀器指標

    達到《JJG 810-1993 波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程》A

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